测试点分解理论

2、测试点分解的依据

（1）DUT的spec
（2）标准、协议
（3）其他文档（产品需求、架构文档、算法说明、产品说明书、应用手册等）
（4）通用基本逻辑单元的常规测试点
（5）来自设计工程师的要求（是否有特殊的、对极端的电路测试要求）
（6）来自验证工程师的经验

3、测试点和测试用例的关系

（1）一个测试点不能被分解到被多个测试用例包含(但一个测试点是可以在多个用例中被包含的)；
（2）一个测试用例可以包含多个测试点；

4、测试点分类

（1）场景类
（2）功能类
（3）性能类
（4）接口类
（5）异常类
（6）白盒测试点（设计提供）

5、测试点分解方法

• 等价类划分
  输入值的子集，分为有效等价类和无效等价类
  例如：输入值是正整数且小于16，则有效等价类为0<x<=15,小于0和大于16为无效等价类
  
• 边界值分析
  把输入值的边界值作为测试点，则可划分为正常区域，正常边界区域，异常边界区域，异常区域。
  例如：输入值是正整数且小于16，则正常边界区域为1和15，异常边界区域为0和16。
  
• 因果图表法
  例如：输入a和b得到结果x,输入c和d得到结果y，列出所有的关系，再对不能同时的输入简化，做出测试点。
  
• 正交矩阵法
  对输入的各个条件正交，筛选得出可靠的测试点。
  例如：输入参数A有开启、关闭两种情况，参数B有模式1和模式2两种，参数C位宽选择有1bit，8bit和64bit，利用正交矩阵分解就有12种情况：
  – A开启、B为模式1、C位宽选择1bit；
  – A开启、B为模式1、C位宽选择8bit；
  – A开启、B为模式1、C位宽选择64bit；
  – A开启、B为模式2、C位宽选择1bit；
  – A开启、B为模式2、C位宽选择8bit；
  – A开启、B为模式2、C位宽选择64bit；
  – A关闭、B为模式1、C位宽选择1bit；
  – A关闭、B为模式1、C位宽选择8bit；
  – A关闭、B为模式1、C位宽选择64bit；
  – A关闭、B为模式2、C位宽选择1bit；
  – A关闭、B为模式2、C位宽选择8bit；
  – A关闭、B为模式2、C位宽选择64bit；
  
• 随机变量法
  对输入的值进行随机化，一般和等价类法联合使用，在等价区域使用随机化的值。
  例如：输入值是正整数且小于等于1000，有效等价类是0<x<=1000，如果不需要覆盖到1~1000的所有值，有效边界值是1和1000，可分解测试点为：1,2,[3:998],999,1000。
  
• 错误推断法
  根据经验和对DUT的理解，假设DUT在特定激励下会发生异常或错误，有目的构建一些测试用例去捕捉这类错误或确定错误不存在。
  例如：可能有些设计人员没考虑全反压的情况，在测试点分解时可增加接口上的反压测试，可通过force一定时间FIFO的full或afull信号，观察逻辑处理情况。
  
• 场景分析法
  根据用户的使用场景进行测试点分解。
  例：如下图状态机，初始状态为S0，可经过两条路径到达S3，
  即，路径1：S0-S1-S2-S3-S0；路径2：S0-S1-S3-S0