芯片开发流程
数字芯片验证的基本概念
概念 | 芯片验证就是采用相应的验证语言,验证工具,验证方法,在芯片生产之前确认芯片的设计: 1)是否符合客户的原始需求, 2)是否符合芯片定义的规格, 3)是否发现并更正了所有的缺陷。 |
目标 | 是缺陷零,不是跑完所有的用例或者覆盖到所有测试点: (1)BT无缺陷遗漏至IT, (2)IT无缺陷遗漏至ST, (3)ST无缺陷遗漏至FPGA/EMU, (4)整体无缺陷遗漏至Tapeout。 |
核心 | 是测试点分解,不是跑用例: SPEC —> TEST FEATURE —> TEST POINT 测试点分为场景类、功能类、性能类、白盒测试点(设计人员提供)、接口类、异常类等维度。 全面、明确、细致,无歧义的将所有验证特性细化为一个个不可分割的小点,每个点明确激励策略、检查策略,采用directtest还是coverage还是assertion确保覆盖。 功能覆盖需要细化覆盖范围,比如典型值、边界值、异常值、cross。测试点也不是一次分解完成,在整个验证过程中会进行多次分解和review,直至完善。 |
数字芯片验证流程




