芯片开发流程 & 验证流程

芯片开发流程
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数字芯片验证的基本概念

概念芯片验证就是采用相应的验证语言,验证工具,验证方法,在芯片生产之前确认芯片的设计:
1)是否符合客户的原始需求,
2)是否符合芯片定义的规格,
3)是否发现并更正了所有的缺陷。
目标是缺陷零,不是跑完所有的用例或者覆盖到所有测试点:
(1)BT无缺陷遗漏至IT,
(2)IT无缺陷遗漏至ST,
(3)ST无缺陷遗漏至FPGA/EMU,
(4)整体无缺陷遗漏至Tapeout。
核心是测试点分解,不是跑用例:
SPEC —> TEST FEATURE —> TEST POINT

测试点分为场景类、功能类、性能类、白盒测试点(设计人员提供)、接口类、异常类等维度。
全面、明确、细致,无歧义的将所有验证特性细化为一个个不可分割的小点,每个点明确激励策略、检查策略,采用directtest还是coverage还是assertion确保覆盖。
功能覆盖需要细化覆盖范围,比如典型值、边界值、异常值、cross。测试点也不是一次分解完成,在整个验证过程中会进行多次分解和review,直至完善。

数字芯片验证流程

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